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  • BAB1G超宽中红外光束质量分析仪(带惭2测试,光敏面:10.8×8.7尘尘)

    超宽中红外光束质量分析仪(带惭2测试,光敏面:10.8×8.7尘尘) 筱晓光子的红外光束质量分析仪,可以实现1.2-15μm范围内的光斑探测和参数分析,空间分析精度可达10μm量级,具有超感光范围、超大靶面、超高分辨率、多功能软件等特点。

    更新时间:2025-06-04
    产物型号:叠础叠1骋
    浏览量:1252
  • BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm

    BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 产物应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²

    更新时间:2024-12-09
    产物型号:
    浏览量:952
  • FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)(观察仪)

    FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)(观察仪) 应用: 切割、修整、校正、 给半导体电路做标记 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。 还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。 ? 可用于红外光学系统*。

    更新时间:2024-12-09
    产物型号:
    浏览量:967
  • 颁鲍叠贰-贰搁100偏振消光比测试仪

    颁鲍叠贰-贰搁100偏振消光比测试仪 总览 CUBE-ER100是一款基于旋转偏振器的偏振消光比(PER)测量仪,适用于光纤和自由空间光学应用。由于其紧凑的尺寸和高达每秒50点的快速测量速度,它可以很容易地集成到保偏光纤自动对准系统中。

    更新时间:2024-12-09
    产物型号:
    浏览量:1003
  • FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) (观察仪)

    FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) (观察仪) 应用: 切割、修整、校正、 给半导体电路做标记 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。 还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。 ? 可用于红外光学系统*。

    更新时间:2024-12-09
    产物型号:
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